摘要: SOT系列产品塑封体裂纹是半导体封装工艺中常见的失效模式之一,尤其是SOT23塑封体裂纹。由于塑封体裂纹的多样性及隐蔽性,极大地影响产品成品率,造成质量隐患。通过分析导致裂纹产生的原因,并进行相关试验验证,最终提出一套行之有效的方法以解决SOT23塑封体裂纹问题。
中图分类号:
程琪;李进;袁健. SOT23 塑封体裂纹分析与改进[J]. 电子与封装, 2020, 20(11):
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CHENG Qi, LI Jin, YUAN Jian. Analysis and Improvement of PlasticPackage Crack of SOT23 Product[J]. Electronics & Packaging, 2020, 20(11):
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