电子与封装 ›› 2022, Vol. 22 ›› Issue (7): 070203 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0711
李进1;邵志锋2;邱松2;沈伟1;潘旭麒1
LI Jin1, SHAO Zhifeng2, QIU Song2, SHEN Wei1, PAN Xuqi1
摘要: 随着半导体封装密度的提高,FBGA等单面封装形式被广泛采用。在这些封装中,由于其非对称结构容易发生翘曲,且大面积封装基板也越来越薄,降低翘曲的要求也越来越高。为了减少单面封装的翘曲,有报道称,通过提高玻璃化转变温度(Tg)和降低封装材料的线膨胀系数来降低成型收缩率是有效的。然而,要保持环氧塑封料(Epoxy Molding Compound,EMC)的高流动性并大幅降低成型收缩率是很困难的。将固化收缩率引入热粘弹性分析技术,明确了球栅阵列(Ball Grid Array,BGA)封装翘曲的发生机制,采用降低高温弯曲模量的方法可以设计出具有低粘度、高流动性和低翘曲的环氧塑封料。
中图分类号: