电子与封装 ›› 2024, Vol. 24 ›› Issue (9): 090206 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0120
王世春1,3;沈若尧1;任长友2;张欣桐1;武帅1;邓川2;王彤2;郭可升1;刘宏1;郝志峰3
WANG Shichun1,3, SHEN Ruoyao1, REN Changyou2, ZHANG Xintong1, WU Shuai1, DENG Chuan2, WANG Tong2, GUO Kesheng1, LIU Hong1, HAO Zhifeng3
摘要: 采用超声波键合对由无氰电镀金和含氰电镀金制备的封装材料进行金丝键合测试,研究了键合工艺参数(超声功率、超声时间、键合压力)对键合性能的影响。结果表明,采用无氰电镀金液的底材材料硬度高,金丝焊球处发生失效的现象较多,而采用含氰电镀金液的底材材料硬度低,金丝焊球处发生失效的现象较少。对于低硬度的电镀金层,其焊球直径和键合高度都较低,有助于键合金丝和电镀金界面实现更好的融合。超声时间是影响键合性能的主要因素,当超声时间增加至300 ms,金丝焊球不再出现失效,有效解决了键合性能不良的问题。
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