摘要: 为提高片上存储的可靠性,设计了一种基于汉明码纠错的高可靠性存储系统。该电路包括检错纠错(ECC)寄存器模块和ECC_CTRL模块。CPU可通过高级高性能总线(AHB)配置ECC寄存器以实现相应功能,SRAM和Flash的读写数据则通过ECC_CTRL模块进行校验码的生成和数据的检错纠错。仿真结果表明,该高可靠存储系统能够检测单bit和双bit错误,纠正单bit错误,提高了数据存储的可靠性,同时可将发生错误的数据和地址锁存在寄存器中,以便用户规避访问发生错误的地址。
中图分类号:
史兴强,刘梦影,王芬芬,陆皆晟,陈红. 一种基于汉明码纠错的高可靠存储系统设计[J]. 电子与封装, 2024, 24(7):
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