摘要: 光学检漏OLT借助先进的数字电子全息照相干涉测量技术,可实现同步完成传统气密封装的细检漏、粗检漏过程的一项新型检漏技术。重点介绍了光学检漏漏率计算公式的推导过程,并对光学检漏测量数据的准确性、光学检漏方法的优缺点等进行了比较和讨论。
中图分类号:
葛秋玲,肖汉武. 深入理解光学检漏:漏率计算及其他[J]. 电子与封装, 2018, 18(7):
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