中国半导体行业协会封装分会会刊

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电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (7): 25 -27. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0086

• 电路设计 • 上一篇    下一篇

一种带自刷新功能的三模冗余触发器设计

曹靓,王文,封晴   

  1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214072
  • 出版日期:2017-07-20 发布日期:2017-07-20
  • 作者简介:曹靓(1984—),男,江苏无锡人,毕业于东南大学,工程师,现就职于中国电子科技集团第五十八研究所,主要从事抗辐照FPGA等电路设计工作。

Design of Triple Modular Redundancy Flip-flop with Self-refresh Function

CAO Liang, WANG Wen, FENG Qing   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Wuxi 214072,China
  • Online:2017-07-20 Published:2017-07-20

摘要: 随着体硅CMOS电路工艺尺寸的不断缩小,数字电路在宇宙空间中受到的单粒子效应愈发严重。特别是触发器结构电路,单粒子效应中的单粒子翻转效应会造成触发器内部存储的数据发生错乱,影响电路正常工作。提出了一种带自刷新功能的三模冗余触发器设计,改进了传统三模冗余触发器设计只表决修正输出不刷新错误数据的不足。

关键词: 单粒子翻转, 抗辐射加固, 触发器, 三模冗余

Abstract: Digital logic technology scaling results in greater sensitivity to the radiation effect when used in space. Especially in date flip-flop, Single-Event Upset may make the data in flip-flop change and cause complete failure of circuit function. The paper introduces a design of TMR (Triple Modular Redundancy) flip-flop with self-refresh function, which improves the traditional design of TMR flip-flop that only corrects the output through vote gate without refreshing the error bits.

Key words: Single-Event Upset, radiation hardness, flip-flop, Triple Modular Redundancy

中图分类号: