摘要: 在厚膜电路中,金丝球键合的第二焊点键合区通常由厚膜金层、铝过渡片、镀镍引线组成。键合区材料的粗糙度、缺陷尺寸及硬度等方面存在差异,对键合设备的输出精度、劈刀形貌和键合参数提出了更高要求。第二焊点采用楔形鱼尾焊工艺,容易存在脱焊、拉力强度不足的问题。因此,采用键合球在焊线上(BBOS)、补短线等工艺加固第二焊点。通过静力学分析、随机振动分析等有限元仿真方法,结合可靠性实验对不同工艺条件下的第二焊点进行分析对比,结果表明,BBOS工艺是最优选择。
中图分类号:
骞涤. 金丝球键合第二焊点的加固工艺与可靠性研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(10):
100202 .
QIAN Di. Research on Reinforcement Process and Reliability of the Second Solder Joint for Gold Wire Ball Bonding[J]. Electronics & Packaging, 2024, 24(10):
100202 .