• 封装、组装与测试 • 下一篇
梁泽1,蒋少强2,王剑2,王世堉2,聂富刚2,张耀1,周健1
LIANG Ze1, JIANG Shaoqiang2, WANG Jian2, WANG Shiyu2, NIE Fugang2, ZHANG Yao1, ZHOU Jian1
摘要: 由于在较高的焊接温度下芯片和基板变形量大,导致HoP、NWO、SBB等焊接缺陷问题突出,SAC305等常规中高温焊料已不能适用于大尺寸芯片焊接工艺要求,而低熔点SnBi基焊料可靠性尚有不足。为了解决熔点与可靠性的矛盾,首先通过In、Bi的加入降低了Sn-Ag-Cu焊料的熔点(至194.1 ℃),其合金组织中并未形成低熔点相,同时根据焊点回流和高温老化的组织演变、抗跌落,高温老化,热疲劳等可靠性评价优化了Ag的含量。结果表明:相比较SAC305,新型中低温Sn-In-Bi-(Ag,Cu)焊料的回流温度可降低20~25 ℃,由于基体强化的同时,金属间化合物颗粒相的粗化得到抑制,其焊点可靠性优于SAC305合金。