摘要: 随着平行缝焊腔体尺寸的增大,尤其在中温共烧陶瓷封装和薄型高温共烧陶瓷封装中,常常存在平行缝焊的密封成品率相对较低和气密性可靠性相对较差的问题。通过分析氧化铝陶瓷封装的密封失效原因,提出优化平行缝焊可伐焊框和盖板的结构设计来提升密封可靠性。以采用FC-CPGA570封装形式的某型DSP电路为例进行仿真和验证,通过降低钎焊残余热应力、增加缓冲结构、采用盖板轻量化设计,实现了很好的密封成品率及好的密封可靠性,为同类产品乃至低温共烧陶瓷封装的气密性设计、可靠性提升提供参考。
中图分类号:
丁荣峥,田爽,肖汉武. 大腔体陶瓷封装中平行缝焊的密封可靠性设计[J]. 电子与封装, 2024, 24(10):
100201 .
DING Rongzheng, TIAN Shuang, XIAO Hanwu. Sealing Reliability Design of Parallel Seam Welding in Large Cavity Ceramic Package[J]. Electronics & Packaging, 2024, 24(10):
100201 .