电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (9): 5 -7. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0094
李 忠1,麻建华1,李学易2
LI Zhong1, MA Jianhua1, LI Xueyi2
摘要: 介绍了对细密线路PCB板一次合格率的改善工作,重点是压合凹陷造成的短路现象的最新研究进展。通过对中测缺陷问题进行分析,发现压合凹陷是重要的中测良率影响因素。对压合凹陷短路现象产生的主要原因(PP粉、纤维丝、涂膜剂及其他灰尘杂物)做了进一步分析,并提出改善办法,可以有效降低压合凹陷造成的短路不良,从而提高中测一次合格率。