电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (10): 13 -16. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0108
肖艳梅1 ,陆 锋12
XIAO Yanmei, LU Feng
摘要: 随着现场可编程门阵列(FPGA)规模发展到千万门级以上,配置向量越来越大,超过95%的FPGA制造测试时间用于加载测试配置比特流。为实现FPGA的快速配置测试,提出了一种FPGA快速测试配置及实现方法。采用V93000测试系统,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式)。以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证。测试数据表明,与一般配置方法相比,4X配置方式下FPGA单次配置时间减少了74.1%,解决了FPGA测试中数据配置与测试时间的矛盾。
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