基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案*

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0027

电子与封装 ›› 2025, Vol. 25 ›› Issue (2): 020207 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0027

基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案^*

周中顺^1,2,夏蔡娟¹,李连碧¹,李飞飞²

1. 西安工程大学理学院，西安 710048；2. 苏州飞盈微电子有限公司，江苏苏州? 215123

收稿日期:2024-11-03 出版日期:2025-02-27 发布日期:2025-01-20
作者简介:周中顺（1999—），男，山东菏泽人，硕士，测试工程师，主要研究方向为集成电路验证与测试技术。

Efficient FT Test Solution Based on Chroma 3380P Test Bench

ZHOU Zhongshun ^1,2, XIA Caijuan ¹, LI Lianbi ¹,LI Feifei²

1. School of Science, Xi'an PolytechnicUniversity, Xi'an 710048, China; 2. Suzhou FeiyingMicroelectronics Co., Ltd., 215123, China

Received:2024-11-03 Online:2025-02-27 Published:2025-01-20

摘要/Abstract

摘要： 针对高端自动测试成本过高与芯片设计公司日益增长的测试需求不匹配这一现状，拟采用Chroma 3380 P型测试机和长川C6100TS三温平移式分选机组合，开发一种新型的高性能自动化测试系统。通过分析芯片测试的各项要求，设计了一个综合性的测试方案。搭建了完善的测试平台，充分融合了Chroma 3380P测试平台的专业性能与长川C6100TS分选机的先进功能，同时通过外接高精度测试仪器，不仅实现了对芯片高效且精确的测试，还大大降低了测试成本，在ATE测试中具有通用性，为更多测试人员提供参考。

关键词: ATE, Chroma3380P, FT测试, C6100TS三温平移式分选机

Abstract: In response to the mismatch between the high cost of high-end automatic testing and the growing testing needs of chip design companies, a new high-performance automatic testing system is proposed by combining Chroma 3380P-type testing machine and Changchuan C6100TS triple-temperature translational sorter. A comprehensive testing plan is designed by analyzing the various requirements of chip testing. A complete testing platform is built, which fully integrates the professional performance of Chroma 3380P testing platform and the advanced functions of Changchuan C6100TS sorter. At the same time, through external high-precision testing instruments, the efficient and accurate testing of chips is achieved, and the testing cost is significantly reduced. It has universality in ATE testing and provides a reference for more testers.

Key words: ATE, Chroma 3380P, FT test, C6100TS triple-temperature translational sorter

中图分类号:

TN407

周中顺,夏蔡娟,李连碧,李飞飞. 基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案^*[J]. 电子与封装, 2025, 25(2): 020207 .

ZHOU Zhongshun , XIA Caijuan , LI Lianbi ,LI Feifei. Efficient FT Test Solution Based on Chroma 3380P Test Bench[J]. Electronics & Packaging, 2025, 25(2): 020207 .

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案^*

Efficient FT Test Solution Based on Chroma 3380P Test Bench

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