[1] 张宸赫, 李盼桢, 董浩楠, 等. 高功率半导体用纳米银焊膏的研究现状[J]. 电子与封装, 2024, 24(5): 050203. [2] 高军. 关于BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命的探讨[J]. 电子测试, 2019(2): 71-72. [3] 王磊, 魏晓光, 唐新灵, 等. 功率器件封装结构热设计综述[J]. 中国电机工程学报, 2024, 44(7): 2748-2773. [4] 陈轶龙. BGA封装焊点可靠性及疲劳寿命分析[D]. 西安: 西安电子科技大学, 2016. [5] DING C, LIU H, NGO K D T, et al. A double-side cooled SiC MOSFET power module with sintered-silver interposers: I-design, simulation, fabrication, and performance characterization[J]. IEEE Transactions on Power Electronics,2021, 36(10): 11672-11680. [6] 邵陈希. 电子器件传热特性研究及热疲劳分析[D]. 南京: 东南大学, 2016. [7] 吴梁玉, 孙清, 邵陈希, 等. 热循环载荷下BGA封装体热应力特性[J]. 热科学与技术, 2018, 17(6): 509-516. [8] 张惟斌, 申坤, 姚颂禹, 等. 基于Anand模型的BGA封装热冲击循环分析及焊点疲劳寿命预测[J]. 电子与封装, 2024, 24(3): 030207. [9] 杜泽晨, 张一杰, 张文婷, 等. 碳化硅器件封装进展综述及展望[J]. 电子与封装, 2022, 22(5): 050102. [10] 彭程. 银烧结与球栅阵列互连功率模块封装研究[D]. 长沙: 中南大学, 2023. [11] 王美玉, 胡伟波, 孙晓冬, 等. 功率电子封装关键材料和结构设计的研究进展[J]. 电子与封装, 2021, 21(10): 100109. [12] 梅云辉, 鲁鑫焱, 杜昆, 等. 基于低温烧结银的封装互连方法研究进展[J]. 机车电传动, 2021(5): 21-27. [13] DING C, LU S C, ZHANG Z C, et al. Double-side cooled SiC MOSFET power modules with sintered-silver interposers for a 100-kW/L traction inverter[J]. IEEE Transactions on Power Electronics, 2023, 38(8): 9685-9694. [14] 葛光亚, 胡彦平, 陈津虎, 等. BGA几何建模对仿真分析结果的影响研究[J]. 强度与环境, 2023, 50(4): 8-14. [15] 于志恒. 双面连接SiC MOSFET功率模块布局设计的热-电-力性能仿真研究[D]. 天津: 南开大学, 2022. [16] ANAND L. Constitutive equations for hot-working of metals[J]. International Journal of Plasticity, 1985, 1(3): 213-231. [17] BROWN S B, KIM K H, ANAND L. An internal variable constitutive model for hot working of metals[J]. International Journal of Plasticity, 1989, 5(2): 95-130. [18] 闫海东. 甲酸辅助烧结纳米银无压连接IGBT芯片方法及可靠性[D]. 天津: 天津大学, 2017. [19] YU D J, CHEN X, CHEN G, et al. Applying Anand model to low-temperature sintered nanoscale silver paste chip attachment[J]. Materials & Design, 2009, 30(10): 4574-4579. [20] 能立强. 多芯片并联SiC MOSFET模块的电-热-力多物理场仿真设计研究[D]. 天津: 天津大学, 2020. |