中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (10): 6 -8. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0116

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

BGA器件筛选过程中的焊球问题及防护措施

王 瑜   

  1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214072
  • 收稿日期:2017-04-28 出版日期:2017-10-20 发布日期:2017-10-20
  • 作者简介:王 瑜(1984—),女,江苏宜兴人,本科,毕业于江南大学,目前从事电子元器件的二次筛选检验工作。

Study of Solder Ball Problems and Countermeasures During BGA Screening Process

WANG Yu   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China
  • Received:2017-04-28 Online:2017-10-20 Published:2017-10-20

摘要: 伴随着高密度电子组装技术的发展,BGA(BallGrid Array)成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。对BGA器件筛选过程中出现的不良案例发生的原因进行了分析。根据异常情况提出了BGA器件筛选过程中的控制措施,包括来料把关、过程控制和质量控制(规范化)等,以保证BGA器件在后期筛选过程中的可靠性。重点对BGA器件在筛选过程中的现场控制、焊球防护及管理方面进行了阐述。

关键词: BGA器件, 质量控制, 防护

Abstract: The recent development of high-density electronic packaging technology has distinguished BGA as the best choice for high-density,high-performance,multi-functional and high I/Os devices.In the paper,the causes of failure during the screening process and countermeasures including materials,process control and quality control are analyzed.Meanwhile, the field control,solder ball protection and management during the screening process are highlighted.

Key words: BGA device, quality control, protection

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