[1] |
徐艳博;王志杰;刘美;孙志美;牛继勇. 铝焊盘镀钯铜丝多焊球脱焊失效的电化学评价[J]. 电子与封装, 2024, 24(8): 80205-. |
[2] |
韩文静;冯春苗;刘发;袁海. 混合集成电路元器件的黏接渗胶问题研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(8): 80207-. |
[3] |
孙浩洋,姬峰,冯青华,兰元飞,王建扬,王明伟. 面向快速散热的HTCC基板微流道性能研究*[J]. 电子与封装, 2024, 24(7): 70203-. |
[4] |
李圣贤,丁增千. 倒装芯片的底部填充工艺研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(7): 70208-. |
[5] |
赵瑾,于大全,秦飞. 面向Chiplet集成的三维互连硅桥技术*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60101-. |
[6] |
张旋,李海娟,吴道伟,张雷. 2.5D TSV转接板无损检测方法的研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60102-. |
[7] |
吴鲁超,陆宇青,王珺. 硅通孔3D互连热-力可靠性的研究与展望*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60103-. |
[8] |
马书英, 付东之, 刘轶, 仲晓羽, 赵艳娇, 陈富军, 段光雄, 边智芸. 硅通孔三维互连与集成技术[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60109-. |
[9] |
张爱兵, 李洋, 姚昕, 李轶楠, 梁梦楠. 基于硅通孔互连的芯粒集成技术研究进展[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60110-. |
[10] |
黎科,张鑫硕,夏启飞,钟毅,于大全. 集成电路互连微纳米尺度硅通孔技术进展*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60111-. |
[11] |
吕贤亮,杨迪,毕明浩,时慧. 回流焊工艺对SMT器件热翘曲的影响[J]. 电子与封装, 2024, 24(5): 50206-. |
[12] |
黄国平,王晓卫,陈科科. 微电路模块异质黏接封装失效行为的研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(4): 40203-. |
[13] |
徐达,戎子龙,杨彦锋,魏少伟,马紫成. 基于ENEPIG镀层的无压纳米银膏烧结失效分析[J]. 电子与封装, 2024, 24(4): 40204-. |
[14] |
杨兴宇,马其琪,张艳辉,贾少雄. 基于压力辅助烧结方法改善LTCC基板翘曲的研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(4): 40205-. |
[15] |
马明阳,曹森,杨振涛,张世平,欧彪. 金属盖板镀层形貌对平行缝焊器件抗盐雾性能的影响[J]. 电子与封装, 2024, 24(4): 40206-. |