[1] |
丁荣峥,田爽,肖汉武. 大腔体陶瓷封装中平行缝焊的密封可靠性设计[J]. 电子与封装, 2024, 24(10): 100201-. |
[2] |
陈浪,杜建宇,汪琪,张盼,张驰,王玮. 芯粒集成工艺技术发展与挑战*[J]. 电子与封装, 2024, 24(10): 100203-. |
[3] |
钟贵朝,蒋苗苗,赵明,韩英,张坤,高胜寒. 自动贴片工艺可靠性研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(10): 100204-. |
[4] |
王世春;沈若尧;任长友;张欣桐;武帅;邓川;王彤;郭可升;刘宏;郝志峰. 键合参数对电镀金键合性能的影响*[J]. 电子与封装, 2024, 24(9): 90206-. |
[5] |
陈祎;岳琨;吕复强;姚大平. 集成电路异构集成封装技术进展[J]. 电子与封装, 2024, 24(9): 90207-. |
[6] |
徐艳博;王志杰;刘美;孙志美;牛继勇. 铝焊盘镀钯铜丝多焊球脱焊失效的电化学评价[J]. 电子与封装, 2024, 24(8): 80205-. |
[7] |
韩文静;冯春苗;刘发;袁海. 混合集成电路元器件的黏接渗胶问题研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(8): 80207-. |
[8] |
孙浩洋,姬峰,冯青华,兰元飞,王建扬,王明伟. 面向快速散热的HTCC基板微流道性能研究*[J]. 电子与封装, 2024, 24(7): 70203-. |
[9] |
李圣贤,丁增千. 倒装芯片的底部填充工艺研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(7): 70208-. |
[10] |
赵瑾,于大全,秦飞. 面向Chiplet集成的三维互连硅桥技术*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60101-. |
[11] |
张旋,李海娟,吴道伟,张雷. 2.5D TSV转接板无损检测方法的研究[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60102-. |
[12] |
吴鲁超,陆宇青,王珺. 硅通孔3D互连热-力可靠性的研究与展望*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60103-. |
[13] |
马书英, 付东之, 刘轶, 仲晓羽, 赵艳娇, 陈富军, 段光雄, 边智芸. 硅通孔三维互连与集成技术[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60109-. |
[14] |
张爱兵, 李洋, 姚昕, 李轶楠, 梁梦楠. 基于硅通孔互连的芯粒集成技术研究进展[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60110-. |
[15] |
黎科,张鑫硕,夏启飞,钟毅,于大全. 集成电路互连微纳米尺度硅通孔技术进展*[J]. 电子与封装, 2024, 24(6): 60111-. |